Перейти к основному содержанию

Изменения к шагу №3

Отредактированно Brittany McCrigler -

Правка одобрена автор Brittany McCrigler

Удален
Добавлено
Без изменений

Шаг Линий

[* black] After pre-processing the chips are examined. It's best to see that your specimen is ready...
[* black] ...ready for the transmission electron microscope (TEM).
[* black] This bad boy is handy when you want to know transistor strain, gate oxide thicknesses, or crystal lattice orientation.
[* black] Like the ion blaster, the TEM uses the shoot-first-ask-questions-later method by blasting electrons at its prey to see how they get along.

Изображение 1

Нет предыдущего изображения

Добавлено

Изображение 2

Нет предыдущего изображения

Добавлено