Возврат к шагу #3
Отредактированно Brittany McCrigler -
Правка одобрена автор Brittany McCrigler
- До
- После
- Без изменений
Шаг Линий
| + | [* black] After pre-processing the chips are examined. It's best to see that your specimen is ready... |
|---|---|
| + | [* black] ...ready for the transmission electron microscope (TEM). |
| + | [* black] This bad boy is handy when you want to know transistor strain, gate oxide thicknesses, or crystal lattice orientation. |
| + | [* black] Like the ion blaster, the TEM uses the shoot-first-ask-questions-later method by blasting electrons at its prey to see how they get along. |
Изображение 1
Нет предыдущего изображения
Добавлено
Изображение 2
Нет предыдущего изображения
Добавлено